簡要描述:阻抗測試儀 IM3570實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量基本精度±0.08%的高精度測量適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
產品分類
Product Category相關文章
Related Articles詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
---|---|---|---|
應用領域 | 電子 |
| ||||||||||||||||||||||
| ||||||||||
1臺儀器實現不同測量條件下的高速檢查 |
| |||||||||
阻抗測試儀 IM3570 |
| |||||||||
|
| |||||||||
| ||||||||||
阻抗測試儀 IM3570主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。 |
| |||||||||
基本參數 |
|
產品咨詢
微信掃一掃